结构分析室仪器

多晶X射线衍射仪(XRD)

稿件来源: 发布时间:2024-05-22

仪器型号:D8 Advance

生产厂家:德国Bruker公司

投入使用日期:20228

操作方式:管理人员与用户操作相结合

仪器位置:理化所1号楼124

服务时间:周一至周五,8:00-17:00 

管理人员:王辉

联系方式:010-82543561huiwang@mail.ipc.ac.cn

仪器简介:多晶X射线衍射仪是利用X射线在晶体中的衍射现象来分析材料的晶体结构、晶格参数、晶体缺陷、不同晶相的含量及内应力的方法。仪器主要由X射线发生器、测角仪、探测器、控制操作与数据处理计算机系统组成。主要配件:粉末测试的聚焦光路-多晶薄膜测试的平行光路-单晶薄膜测试的高分辨光路三套系统;多位自动进样样品台;织构/应力/微区分析附件;高温原位分析附件;小角散射分析附件。主要技术指标:X射线光管: Cu靶陶瓷X光管,2.2kW,扫描方式:θ/2θ测角仪,扫描范围:-110度~168度,测角精度:0.0001 度,最高扫描速度:1500/minLynxeye XE-T探测器:192个通道,动态范围:1×109cps,探测效率:98%,可进行快速测量。

功能用途:

本仪器能完成多晶样品的物相定性和无标样定量分析,结构精修,粉末衍射解结构;纳米级薄膜材料的物相分析,用于测量层多晶薄膜的成份;以及纳米材料的小角散射分析等。

测试和研究领域:纳米科学、材料科学、物理、化学、生命科学

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