仪器型号：MultiMode 8系统 

生产厂家：美国Bruker公司 

投入使用日期：2012年5月

操作方式：由管理人员操作 

仪器位置：理化所1号楼104

服务时间：周一至周五，8:00-17:00 

管理人员：方金云 

联系方式：010-82543526； fangjy@mail.ipc.ac.cn 

仪器简介：

1.具备的测试模式：智能成像模式（ScanAsyst）、接触模式（Contact Mode）、轻敲模式（Tapping Mode ）、扭转共振模式（TR-Mode）、抬高模式（Lift Mode）、横向力显微镜（Lateral Force Microscopy，LFM）、磁力显微镜（Magnetic Force Microscopy，MFM）、静电力显微镜（Electric Force Microscopy，EFM）、表面电势测量（Surface Potential Detection）、力曲线测量（Force Curve Detection）、峰值力定量力学模式（Peakforce QNM）。

2.扫描范围：

J型扫描管125μm×125μm×5μm；

E型扫描管10μm×10μm×2μm。

3.样品尺寸：15mm×15mm×2mm；

4.噪声水平：空气中噪音小于0.03nm

功能用途：

材料表面的形貌观察、力学性能测试、电学性能测试、磁学性能测试。

测试和研究领域：

材科科学、半导体工业、生物学、仿生学、物理、化学、食品、医药、地质、能源、环境等领域。