仪器型号：JEM-ARM300F

　　生产厂家：日本电子

　　操作方式：管理人员与用户操作相结合

　　放置地点：1号楼105房间

　　服务时间：周一至周五，8:00-17:00

　　管理人员：夏静、李玄泽

　　联系方式：010-82543562，15652752980（微信同步）；xiajing@mail.ipc.ac.cn，lixuanze@mail.ipc.ac.cn

　　仪器简介：JEM-ARM300F球差校正透射电镜配备了JEOL自主研发的球差校正器，实现了世界最高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率，透射配有能谱、能量过滤像和环境样品台等附件，是一款原子级分辨率透射电子显微镜。主要技术指标：电子源和高压：冷场枪，电压可调（60~3000KV）；分辨率：TEM模式下，晶格分辨率0.06nm（300KV），0.136nm（60KV）；STEM-HAADF分辨率为0.063nm（300KV），0.136nm（60KV）；能量分辨率：0.3ev（300KV）；校正器：ETA校正器；极靴：WGP大极靴；样品倾斜角：常规双倾杆，X方向±25°，Y方向±25°；三维重构样品杆，最大倾斜角 ±70°；EDS：JEOL双能谱，可实现点扫、线扫和面扫；成像系统：Gatan OneView快速成像相机，Gatan Quantum Dual EELS；样品杆：单/双倾杆，DENS solutions加热杆和气体杆，Gatan 加热和液氮杆。可实现实验模式：HRTEM、SEAD、CBD、NBD、ADF、HAADF、LAADF 、ABF、STEM-EELS 二次电子成像、EFTEM、三维重构、原位加热等。

　　功能用途：可实现亚埃分辨率下对结构与物性的精细分析，包括原子尺度缺陷结构的物理化学性质测定、轻元素的直接观测、精细电子结构的测定、表界面结构与物性、器件与异质结构有效的精确表征等。可开展亚埃尺度的晶体结构、电子结构、电子价态、成份分布等现代透射电子显微学前沿课题的研究，探测材料的物理化学性质，深入理解材料的结构和物理性能之间的关联。