仪器型号：JEM-2100F

　　生产厂家：日本电子

　　操作方式：管理人员与用户操作相结合

　　放置地点：1号楼105房间

　　服务时间：周一至周五，8:00-17:00

　　管理人员：李玄泽、杨晓萍、夏静

　　联系方式：010-82543562；yangxiaoping@mail.ipc.ac.cn, lixuanze@mail.ipc.ac.cn

　　仪器简介：JEM-2100F场发射透射电镜利用明场、暗场、电子衍射和高分辨成像技术分析各种无机、有机及复合材料的精细结构，同时配有STEM、能谱和GIF等附件分析样品的成分及分布情况，通过CCD数字成像系统记录样品的各种信息。加速电压200KV，冷场发射电子枪，超高分辨极靴；样品倾斜角度：X方向±25°，Y方向±25°； TEM模式下，点分辨率为0.19nm，束斑尺寸小于5nm，放大倍数2000～1500000；STEM模式下，晶格分辨率0.2nm。

　　附件：牛津电制冷EDS，Gatan GIF Quantum，ADF和ABF探头等。

　　功能用途：微观结构研究：材料的形貌、结构、缺陷和界面等，可实现衍衬成像、电子衍射、高分辨分析等表征分析；材料成分研究：微观结构成分的定性和半定量分析，可实现元素的点、线和面分析等。研究的对象可以是周期性的晶体结构，也可以是准晶、非晶、位错、层错等晶体缺陷，以及晶界、相界、畴界、表面等界面。