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场发射枪透射电子显微镜

发表日期: 2011-03-16
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仪器型号:JEM-2100F         

生产厂家:日本电子 

操作方式:工作人员与用户操作相结合 

服务时间:周一至周五 

管理人员:孟祥敏 

联系方式:010-82543562 or 3557;  xmmeng@mail.ipc.ac.cn 

仪器简介:加速电压200KV,超高分辨极靴,样品倾斜角度,X方向±25°,Y方向±25°.点分辨率为0.19nm;TEM模式下,束斑尺寸小于5nm,放大倍数2,000×~1,500,000×;STEM模式下,晶格图象的分辨率为0.2nm;EDS的接受角度为0.13sr; 

功能用途:用于对材料的晶体结构、组织、形貌进行常规的TEM分析和高分辨电子显微学研究。研究对象可以是周期性的晶体结构,也可以是准晶、非晶、位错、层错等晶体缺陷以及晶界、相界、畴界、表面等界面。 

主要测试和研究领域:金属、半导体、化合物、超导体、陶瓷和矿物等材料的研究。 

主要附件及功能:应用STEM、EDS附件功能可以进行元素分布的点、线、面的定性分析、拍摄Z衬度像。

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