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透射电子显微镜

发表日期: 2011-03-10
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仪器型号:JEM-2100 
生产厂家:日本电子
操作方式:工作人员与用户操作相结合
服务时间:周一至周五 
管理人员:杨晓萍,孟祥敏
联系方式:010-82543562 or 3557; xmmeng@mail.ipc.ac.cn
仪器简介:加速电压200KV,高分辨极靴,样品倾斜角度,X方向±25°,Y方向±36°. 点分辨率为0.23nm 放大倍数2,000×~1,500,000×
功能用途:用于对材料的晶体结构、组织和形貌进行常规的TEM分析和高分辨电子显微学研究。研究的对象可以是周期性的晶体结构,也可以是准晶、非晶、位错、层错等晶体缺陷,以及晶界、相界、畴界、表面等界面
主要测试和研究领域:金属、半导体、化合物、超导体、陶瓷和矿物等材料研究
主要附件及功能:应用STEM、EDS附件功能可以进行元素分布的点、线、面定性分析。

评 论
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