仪器型号：SAXSpace

生产厂家：安东帕（奥地利）

购置日期：2017年11月

操作方式：由管理人员操作 

仪器位置：理化所5号楼215

服务时间：周一至周五，8:00-17:00 

管理人员：陈锐 

联系方式：010-82543431； chenrui@mail.ipc.ac.cn 

仪器简介：

利用 X 射线进行结构分析和材料特性表征，包括分散体系中粒子的形貌、尺寸，高分子聚合物材料中长程有序结构、相行为等，生物材料的结构信息，聚集状态等。样品温度范围-100℃-300℃，液体，固体，凝胶样品均可测。

仪器参数：

X射线源：Primux 3000 封管。

探测范围：q 范围 0.03 ~ 40.7 nm⁻¹（对应晶面间距 d：0.15 ~ 200 nm）。

系统分辨率：qmin 可达 0.03 nm⁻¹。

探测器：配备 HPC 探测器（1D Mythen2 R 系列或 2D EIGER R 系列）。

样品环境：

温度：-150 °C 至 +600 °C（控温精度 ±0.1 °C）。

气氛：支持真空、空气、惰性气体及湿度环境。

SWAXS能力：支持同时进行小角和广角散射研究（2Ѳ 最高可达 60°）。

光学系统：全真空光路，采用 Kratky 准直系统（无散射）。

功能用途：

分析材料（如分散体系、高分子、生物大分子）在纳米尺度的微观结构，包括粒子形貌、尺寸分布及长程有序结构。